Browsing by Author "Benafghoul, SEFSAF"
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Item Croissance et caractérisation de films ultra-minces d’oxydes de silicium formes sous bombardement électronique en surface du silicium(100).(D BOLMONT, 1989) Benafghoul, SEFSAFMemoire de doctorat en Physique / Option : Physique du solide .